OPTIZEN Alphalook紫外可見分光光度計

OPTIZEN Alphalook紫外可見分光光度計采用光電二極管陣列探測器同時采集和處理UV-Vis范圍內(nèi)同一光的所有波長，可以縮短分析時間，降低實驗誤差。

PDA 紫外可見分光光度計通過簡單精密的光學(xué)器件，一次性獲得一個紫外-近紅外的廣譜，并測量用戶想要看到的波長數(shù)據(jù)的結(jié)果值。此外，該產(chǎn)品使用兼容的配件，只需簡單的觸屏就可以非常方便地處理復(fù)雜的樣品或大量的樣品。

OPTIZEN Alphalook是一種分光光度計來測量從紫外線、可見光到近紅外線(190 - 1100nm)的波長，通過光電二極管陣列實時顯示。該儀器測量所有波長范圍的時間最長為2秒，適用于測量重復(fù)波長分析和光譜動態(tài)特性，并在各個波長范圍內(nèi)進(jìn)行定量分析。 此外，其外部觸屏按鈕可以輕松測量樣品，并可與Windows®PC兼容。

OPTIZEN Alphalook的主要特征

· 使用外部按鈕輕松快速地支持測量

· 石英涂層保護光學(xué)元件免受污染

· 可在不穩(wěn)定電源條件下獨立運行

· 分析的數(shù)據(jù)可轉(zhuǎn)換成pdf和Excel

· 全光譜實時測量

適用于各種應(yīng)用分析

Alphalook 是一款專業(yè)的紫外可見分光光度計分析儀器，應(yīng)用于化學(xué)、生命科學(xué)、環(huán)境、制藥、食品等各個領(lǐng)域。

加強測量的可靠性

即使在有限的空間里，也可提供快速和可靠的高精度測量和分析。

直觀的用戶界面

采用基于windows的軟件，便于對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行管理和共享。

提高軟件性能

使用測量光譜和數(shù)據(jù)表可以在用戶所需的屏幕上創(chuàng)建一個簡單的標(biāo)準(zhǔn)曲線